牛津儀器 X射線鍍層測厚儀

徐州供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測厚儀      徐州供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測厚儀

產(chǎn)地：英國   品牌：牛津儀器   型號：MAXXI5

    奔藍科技（昆山）有限公司專業(yè)代理英國Oxford Instruments牛津儀器X射線熒光鍍層厚度測量儀(X-ray Fluorescence Measurement System)及配件！我司集銷售、安裝、維護、維修及培訓(xùn)一體化服務(wù)！

一、功能

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3. 鍍層層數(shù)：多至4層。
4. 測量點尺寸：0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.15mm、φ0.1mm、φ0.2mm圓形或矩形
5. 測量時間：通常30秒。
6. 樣品zui大尺寸：600mm(W) x 500mm(D) x 170mm(H)
7. 測量誤差：通常小于5%，視樣品鍍層厚度及測試點大小等具體情況而定。
8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到幾十微米，視樣品組成密度和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

二、特點和數(shù)據(jù)

1. 采用基本參數(shù)法校準，可在無薄膜標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
2. X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調(diào)整Z軸距離，導(dǎo)致測量光程的變化，引起測量的誤差。例如（舉例不同距離導(dǎo)致的誤差數(shù)據(jù)）。
3. 開放的校準模式，用戶可自行建立校準曲線不受儀器廠家限制。
4. 提供符合NIST美國國家標準技術(shù)協(xié)會要求，A2LA美國實驗室協(xié)會認證的標準樣品，可驗證測量結(jié)果并讓實驗數(shù)據(jù)具有可追溯性。
5. Windows 7操作系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可存儲，轉(zhuǎn)移，并可一鍵生成包含測量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值、樣品圖片和趨勢圖等要素的報告（word格式）。

二、產(chǎn)品應(yīng)用：

三、相關(guān)行業(yè)用戶名單:

中國運載火箭研究院、中科院電子所、中科院微電子所、中航發(fā)動機沈陽黎明、中電集團廣州電子所、*701研究所、河北半導(dǎo)體所－13所、中國核工業(yè)原子能研究院、西安航天504所、東北電科院、中航工業(yè)天津航空機電廠、廣東質(zhì)檢院、中航工業(yè)、中航工業(yè)陜西華燕儀表、森博爾鐵路電氣、廣州國光電氣、中科院電子所、富士康、中電集團12所、中航工業(yè)成都飛機制造、中國核工業(yè)綿陽9院、比亞迪等等

四、Oxford Instruments牛津儀器還有以下產(chǎn)品：

奔藍科技昆山分公司   華東一級代理商    吳生：151九零一九4078

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